鑑於電子組裝系統，受到靜電放電(ESD)之侵襲，可能引起Data bits資料重複判讀，或使IC的功能失效，最嚴重的是I/O ports以及整個系統慘遭ESD毀滅性的傷害。凡此，無論系統過度衰減或元件功能毀滅，都將迫使製成品的機能連帶產生惡化；嚴重者，受損元件必須更換或送回原廠維修；即使出現輕微衰減者，例如；系統引用CMOS控制可供自由插入或移離，但無接地之I/O
ports (如 USB等)，起因於人體直接碰觸產生靜電放電(ESD)或靠近引發空氣中的電暈放電(corona discharge)都會產生極度敏感性，致使CMOS的功能減退。基於Data
bits會連續產生不規則變化，縱使經由嚴密測試也很難檢出系統異常的發生源，而需耗費很多時間排除故障。如此一來，不但會造成製成品非常大的負面衝擊，也會徒增許多難以估計的額外支出。
江博先進科技股份有限公司針對解決資料或信號傳輸線路以及二次側電路板，作為預防靜電放電(ESD)瞬態突波侵襲，率先推出Poly
Diode保護元件，由於Clamping voltage, Peak surge current, Capability, ESD durability,
Power dissipation rating, Response time, Load life等等電氣特性，比Silicon TVS diode或Zener
diode更佔有絕對優勢地位，已被廣泛用來置換，Silicon TVS diode和Zener diode。
